0161-0457
工程技術(shù)
Bimonthly
No
SCANNING
1978
47
UNITED STATES
http://onlinelibrary.wiley.com/journal/10.1002/(ISSN)1932-8745
較慢,6-12周審稿時(shí)間
4區(qū)中科院分區(qū)
容易平均錄用比例
1.242影響因子
儀器儀表小學(xué)科
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掃描為所有對(duì)掃描電子、掃描探針和掃描光學(xué)顯微鏡感興趣的科學(xué)家之間快速交換信息提供了一種國(guó)際性和跨學(xué)科的媒介。特別關(guān)注的領(lǐng)域包括與掃描顯微鏡相關(guān)的儀器的所有方面、相關(guān)顯微鏡技術(shù)、立體測(cè)量、體視學(xué)、分析技術(shù)以及顯微鏡的新應(yīng)用。
http://mc.manuscriptcentral.com/sca
Scanning provides an international and interdisciplinary medium for the rapid exchange of information among all scientists interested in scanning electron, scanning probe, and scanning optical microscopies. Areas of specific interest include all aspects of the instrumentation associated with scanning microscopies, correlative microscopy techniques, stereometry, stereology, analytic techniques, and novel applications of the microscopies.
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
JCR分區(qū)等級(jí) | JCR所屬學(xué)科 | 分區(qū) | 影響因子 |
Q3 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | Q3 | 1.75 |
MICROSCOPY | Q4 |
CiteScore | SJR | SNIP | 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
2.70 | 0.353 | 0.697 | 大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation | Q3 | 78 / 136 |
43% |
大類:Physics and Astronomy 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q3 | 118 / 205 |
42% |
影響因子 | h-index | Gold OA文章占比 | 研究類文章占比 | OA開放訪問(wèn) | 平均審稿速度 |
1.75 | 43 | 100.00% | 91.84% | 開放 | 較慢,6-12周 |
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APPLIED SPECTROSCOPY REVIEWS | 工程技術(shù) | 儀器儀表 | 2.888 | N/A | 0570-4928 |
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