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MICROELECTRONICS RELIABILITY

MICROELECTRONICS RELIABILITY SCISCIE

微電子可靠性

0026-2714

工程技術(shù)

Monthly

No

0026-2714

MICROELECTRON RELIAB

1964

403

ENGLAND

http://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability/

較快,2-4周審稿時間

4區(qū)中科院分區(qū)

容易平均錄用比例

1.483影響因子

工程:電子與電氣小學(xué)科

月期刊平臺服務(wù)過的文章錄用時間為1-3個月,依據(jù)20年經(jīng)驗,經(jīng)月期刊專家預(yù)審?fù)ㄟ^后的文章,投稿通過率100%以上!
SCI三劍客

中文簡介

《微電子可靠性》致力于傳播有關(guān)微電子器件、電路和系統(tǒng)可靠性的最新研究成果和相關(guān)信息,從材料、工藝和制造,到設(shè)計、測試和操作。雜志的內(nèi)容包括:測量、理解和分析;評估和預(yù)測;建模與仿真;方法和緩解。將可靠性與微電子工程的其他重要領(lǐng)域,如設(shè)計、制造、集成、測試和現(xiàn)場操作相結(jié)合的論文也將受到歡迎,并特別鼓勵在該領(lǐng)域和具體應(yīng)用領(lǐng)域報告實際案例研究的論文。大多數(shù)被接受的論文將作為研究論文發(fā)表,描述重大進展和完成的工作。審查一般感興趣的重要發(fā)展主題的論文可以作為審查論文發(fā)表??梢钥紤]將性質(zhì)較初步的緊急來文和關(guān)于目前感興趣的已完成實際工作的簡短報告作為研究說明出版。所有的貢獻都要經(jīng)過該領(lǐng)域主要專家的同行審查。其他常規(guī)功能包括:?專門討論重大國際會議或重要發(fā)展主題的專題?給編輯的信?行業(yè)新聞和更新?即將舉行活動的日歷?書評微電子可靠性是一個不可或缺的論壇,在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境的微電子可靠性專業(yè)人士之間,以及所有那些以任何方式與一個穩(wěn)步增長的微電子工業(yè)及其許多應(yīng)用領(lǐng)域相關(guān)的人之間,交流知識和經(jīng)驗。

http://ees.elsevier.com/mr/

英文簡介

icroelectronics Reliability, is dedicated to disseminating the latest research results and related information on the reliability of microelectronic devices, circuits and systems, from materials, process and manufacturing, to design, testing and operation. The coverage of the journal includes the following topics: measurement, understanding and analysis; evaluation and prediction; modelling and simulation; methodologies and mitigation. Papers which combine reliability with other important areas of microelectronics engineering, such as design, fabrication, integration, testing, and field operation will also be welcome, and practical papers reporting case studies in the field and specific application domains are particularly encouraged.Most accepted papers will be published as Research Papers, describing significant advances and completed work. Papers reviewing important developing topics of general interest may be accepted for publication as Review Papers. Urgent communications of a more preliminary nature and short reports on completed practical work of current interest may be considered for publication as Research Notes. All contributions are subject to peer review by leading experts in the field.Additional regular features will include:? Special issues devoted to significant international conferences, or to important developing topics? Letters to the Editors? Industrial news and updates? Calendar of forthcoming events? Book reviewsMicroelectronics Reliability is an indispensable forum for the exchange of knowledge and experience between microelectronics reliability professionals from both academic and industrial environments, and all those associated in any way with a steadily growing microelectronics industry and its many fields of application.

中科院分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2021年12月最新升級版)

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JCR分區(qū)

JCR分區(qū)等級 JCR所屬學(xué)科 分區(qū) 影響因子
Q4 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY Q4 1.418
PHYSICS, APPLIED Q4
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC Q4

CiteScore數(shù)值

CiteScore SJR SNIP 學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
3.50 0.452 0.851 大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q2 62 / 171

64%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 304 / 708

57%

大類:Engineering 小類:Surfaces, Coatings and Films Q2 58 / 129

55%

大類:Engineering 小類:Condensed Matter Physics Q2 191 / 415

54%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 96 / 205

53%

大類:Engineering 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q3 132 / 259

49%

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影響因子趨勢圖

H-index

影響因子 h-index Gold OA文章占比 研究類文章占比 OA開放訪問 平均審稿速度
1.418 80 4.53% 98.03% 未開放 較快,2-4周

自引率趨勢圖

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